本标准规定了用质谱仪进行物质定性分析与定量分析的一般方法。

本标准适用于质谱的定性分析与定量分析。

1定性分析

1.1样品测定

按标准样品同样的试验条件,测定仪器校准样品、待测的未知样品及本底的质谱。

1.2数据分析

根据同位素丰度,判断某些杂原子的元素组成;若获得高分辨精确质量测定的数据,利用精确质量数据可直接计算获得元素组成,计算不饱和度。可能的结构判断:根据质谱仪所得到的重要低质量碎片离子、重要的特征离子、分子离子及由MS/MS法、联动扫描法、亚稳分析法所获得的母离子与子碎片离子的关系等,进行可能结构的推测。按推断的分子结构,对照标准谱图,和类似化合物标准谱图,或者根据该推断结构化合物断裂机理进一步作出确认。

1.3结果报告

如采用直接进样的方式,应提供质谱图。

如采用色谱-质谱联用方式进样,应提供总离子流图及确定保留时间的质谱图。

2定量分析

2.1样品测定

2.1.1一般规定

按标准样品同样的试验条件,测定仪器校准样品、待测的未知样品及本底的质谱。当一般方法的灵敏度达不到要求时,可采用多离子检测定量法。

2.1.2无机元素的定量分析

使用质谱定量分析无机元素一般需先对样品消解后进行分析测试。消解方法一般有敞口容器消解法、密闭容器消解法和微波消解法。消解的常用试剂一般是酸类,包括硝酸、盐酸、高氯酸、硫酸,氢氟酸,以及一定比例的混合酸(如硝酸:盐酸=4:1等),也可使用少量过氧化氢。其中硝酸引起的干扰最小,是样品消解的首选酸。试剂的纯度应为优级纯以上。所用水应为去离子水(电阻率应不小于18 MΩ.cm)。定量分析中常见干扰大致可分为两类:一类是质谱型干扰,主要包括同质异位素、多原子离子、双电荷离子等;另一类是非质谱型干扰,主要包括物理干扰、基体效应、记忆效应等。干扰的消除和校正方法有优化仪器参数、内标校正、干扰方程校正、碰撞反应池技术、稀释校逆、标准加入法等。

2.1.3有机小分子的定量分析

使用质谱对样品中待分析物进行定量分析时,可以选择选择离子检测、多反应离子监测等模式，分析方法的建立主要包括分析物提取、浓缩、净化等前处理步骤和分析物质荷比确定(对多反应离子监测模式,还需通过扫描子离子确定离子对的质荷比)、电压与气体流量参数优化等仪器参数设置,以及质谱分析、数据处理等步骤。

2.1.4有机大分子的定量分析

限于质谱检测器动态质量范围的限制,定量分析蛋白等有机大分子时,将其降解后测定一般具有更好的准确性。有机大分子测定一般包括大分子变性、大分子酶解、萃取、降解物脱盐、质谱分析、数据处理等步骤。

2.2数据分析

2.2.1一般规定

样品定量分析可以通过标准曲线法,内标法、标准加入法等方法进行测定。按具体样品分析方法的规定,采用标准样品或添加的内标样品,测量选择离子的强度,或在总离子流曲线中,选定对应的峰强度,作出校准曲线,再测未知样品。由校准曲线求出待测成分的含量。各成分的含量,应按具体分析方法的规定,表示为质量分数、体积分数或物质的量浓度。

2.2.2

标准曲线法

通过配制不少于5个非空白的分析物梯度浓度的标准溶液,按优化方法进样测定,记录色谱图,计算分析物色谱峰的峰面积。以分析物的量为横坐标、分析物色谱峰峰面积为纵坐标,绘制校准曲线图。在相同条件下进样分析样品溶液,记录色谱图,计算分析物色谱峰峰面积,并以峰面积从校准曲线计算得分析物的量及样品中分析物的浓度。本方法也称为外标法,外标单点法为该方法在校准曲线横坐标截距较小时的特例。